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Polytec TopMapMicro.View系列光學輪廓儀
湖北卓(zhuó)鎂專業銷售Polytec光電(diàn)測速器,Polytec光電開關,Polytec放大器,Polytec 傳感器,Polytec連接器,Polytec激光測振儀,Polytec振動測(cè)量儀,Polytec分析儀
品  牌:
Polytec 
産  地:
 
型  号(hào):
Polytec TopMapMicro.View系列光學輪廓儀 
技術資料(liào):
産品資料下載中心
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  • Polytec TopMapMicro.View系列光學輪廓儀(yí)
    TopMapMicro.View是容易應用且緊密的光學輪廓儀(yí)。融合非(fēi)凡的特性(xìng)及優惠價錢并具備強(qiáng)有力的計量檢定解決方法并(bìng)。
    Micro.View的豎直檢測範圍(wéi)可拓(tuò)展到100mm和CST持續掃描技術性,可在納米技術屏幕分辨率下精确測量繁雜的外貌(mào)。
    這類方便快捷的桌面設置具備集成化(huà)的電子産品,并具有智能化對焦搜索器(qì),可簡化(huà)并加(jiā)速精确測量全過程。
    在緊(jǐn)密的(de)設備中(zhōng)精确測量表層光滑度
    非接觸式(shì)3D地貌,表面粗糙度和紋路的精确(què)測(cè)量
    選用CST持(chí)續掃描技術性可實現100mm豎直檢(jiǎn)測範圍
    精湛的橫着屏幕分辨(biàn)率
    可從特殊于(yú)應用軟件(jiàn)中挑選

    總面(miàn)積小但具備(bèi)作用拓展
    獲益于可選擇的ECT自(zì)然環境賠償技術性,即使在噪雜和充斥着考(kǎo)驗的生産過程中,也可以保證(zhèng)靠譜和确切的測定(dìng)結果(guǒ)。Micro.View是一種經濟發展合理的質量(liàng)管理儀器設備,用以(yǐ)在生(shēng)産和科研中查驗高精密的(de)項目表層。
    在制造中,原材料表層的(de)表面粗糙度、凹凸不平、漲縮等表層樣子針對商品的性能指标與作用擁有最立即的危(wēi)害。光學輪廓儀是一款應用便捷,特(tè)性非凡,高性價比的非觸碰沒有受損的表層精确(què)測量輪廓儀,是适(shì)用生産制造行業的納(nà)米限度3D輪廊測量儀器。
    HITACHI3D光學幹預(yù)測(cè)量系統VS1800-日立原子力顯微鏡_透射電鏡_差示掃(sǎo)描量(liàng)熱儀(yí)_熱重分析儀_原子吸收光譜
    檢(jiǎn)測基本原理(lǐ):乳白色光經分氣泡玻璃發送出(chū)特殊光(guāng)波長的(de)光。這類特殊光波長的光在雙光束幹預(yù)測微(wēi)目鏡中,通過分(fèn)氣泡玻璃被分為兩(liǎng)束光,
    一束光照射參照表層,另一束光直射試品表層,那樣取得的兩束折射光在照相機上三維成像(xiàng)。
    将試品表層的凸凹不平造成(chéng)的(de)光程差所獲取的幹涉條(tiáo)紋信息内容轉化成相(xiàng)對高度信息内容(róng),轉化成3D圖象(xiàng)。

     
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