Polytec TopMapMicro.View系列光學輪廓儀(yí) - 其(qí)他光(guāng)學儀器 - 湖(hú)北(běi)裕祥創揚工程有限公司

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Polytec TopMapMicro.View系列光(guāng)學輪廓儀
TopMapMicro.View是容易應用且緊密的光學輪廓儀。融合非(fēi)凡(fán)的特性及(jí)優惠價錢(qián)并具備強有力(lì)的計量檢定(dìng)解決(jué)方法并。
Micro.View的豎(shù)直檢測範圍可拓展到100mm和CST持續(xù)掃描技術(shù)性，可在納米技術屏幕分辨率下精(jīng)确測(cè)量繁雜的外貌。
這類方便快捷的桌面設(shè)置具備集(jí)成化的電子産品，并具有智能(néng)化對焦搜(sōu)索器，可簡(jiǎn)化并加速(sù)精确測量全(quán)過程。
在緊密的設備中(zhōng)精确測(cè)量表層(céng)光滑度
非(fēi)接觸式3D地(dì)貌，表面粗糙度和紋路的精确(què)測(cè)量
選用CST持續掃(sǎo)描技術性可(kě)實現100mm豎直檢測範(fàn)圍
精湛(zhàn)的橫着屏幕分(fèn)辨率
可從特殊于應用軟件中挑選(xuǎn)

總面(miàn)積小(xiǎo)但具備作用拓展
獲益(yì)于可(kě)選擇的(de)ECT自然環境(jìng)賠償技術(shù)性，即(jí)使在噪雜和(hé)充斥着考驗的生(shēng)産過(guò)程中，也可以保證靠譜和(hé)确切的測定結(jié)果。Micro.View是一種經濟發展(zhǎn)合理的質量管理儀器設(shè)備，用以在生産(chǎn)和科研(yán)中查驗高精(jīng)密的項目(mù)表層。
在制造中，原材料表層的表面粗糙(cāo)度、凹凸不平、漲縮等(děng)表層(céng)樣子針對商品的性能指(zhǐ)标與作用擁有最立(lì)即(jí)的危害。光學輪(lún)廓儀是一款應用便捷(jié)，特性非凡(fán)，高(gāo)性價比的非觸碰(pèng)沒有受損(sǔn)的表層精确測量輪廓儀，是适用生産制造行業的納米限度(dù)3D輪廊測量儀器。
HITACHI3D光學(xué)幹預測量(liàng)系統VS1800-日立(lì)原子力顯微(wēi)鏡_透射電鏡(jìng)_差示掃描量熱儀_熱重(zhòng)分析儀_原子吸收(shōu)光譜(pǔ)
檢測基本(běn)原(yuán)理：乳白色光經分(fèn)氣泡玻璃發(fā)送(sòng)出特殊光波長的光。這類特殊光波(bō)長的光在雙(shuāng)光束幹(gàn)預測微目鏡中，通過(guò)分氣泡玻(bō)璃被(bèi)分為兩束光，
一(yī)束光照射參照(zhào)表層(céng)，另一束光(guāng)直射試(shì)品表層(céng)，那樣取得的兩(liǎng)束折射光在照相機上三維成像。
将試品表層(céng)的(de)凸凹不平(píng)造(zào)成的光程差所獲取的幹涉條紋信息内容轉(zhuǎn)化成相對高度(dù)信息内(nèi)容，轉化成3D圖象。